Häkkinen, A., tiedekunta, M., Sciences, F. o., laitos, F., Physics, D. o., yliopisto, J., & Jyväskylä, U. o. (2024). Comparison of heavy ion and pulsed laser single-event effect test data for analogue and digital devices.
Chicago-viite (17. p.)Häkkinen, Annika, Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta, Faculty of Sciences, Fysiikan laitos, Department of Physics, Jyväskylän yliopisto, ja University of Jyväskylä. Comparison of Heavy Ion and Pulsed Laser Single-event Effect Test Data for Analogue and Digital Devices. 2024.
MLA-viite (9. p.)Häkkinen, Annika, et al. Comparison of Heavy Ion and Pulsed Laser Single-event Effect Test Data for Analogue and Digital Devices. 2024.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.