In-situ SEE detection in integrated flip-flops

In-situ SEE detection in integrated flip-flops

Electronic devices are sensitive to single event effects due to one ionizing particle creating a temporary voltage pulse in a transistor of a logic cell. This pulse is called a Single Event Transient. When this pulse is captured in a flip-flop or latch, wrong data can be retained and propagated, whi...

Täydet tiedot

Bibliografiset tiedot
Päätekijä: De Raedemaeker, Stefan
Muut tekijät: Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta, Faculty of Sciences, Fysiikan laitos, Department of Physics, Jyväskylän yliopisto, University of Jyväskylä
Aineistotyyppi: Pro gradu
Kieli:eng
Julkaistu: 2023
Aiheet:
Elektroniikka
Electronics
4022
mikroelektroniikka
säteily
microelectronics
radiation
Linkit: https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/89325

Samankaltaisia teoksia