Koppinen, P., tiedekunta, M., Sciences, F. o., laitos, F., Physics, D. o., Jyväskylä, U. o., & yliopisto, J. (2003). Bias and temperature dependence analysis of the tunneling current of normal metal-insulator-normal metal tunnel junctions.
Chicago-viite (17. p.)Koppinen, Panu, Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta, Faculty of Sciences, Fysiikan laitos, Department of Physics, University of Jyväskylä, ja Jyväskylän yliopisto. Bias and Temperature Dependence Analysis of the Tunneling Current of Normal Metal-insulator-normal Metal Tunnel Junctions. 2003.
MLA-viite (9. p.)Koppinen, Panu, et al. Bias and Temperature Dependence Analysis of the Tunneling Current of Normal Metal-insulator-normal Metal Tunnel Junctions. 2003.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.