Bias and temperature dependence analysis of the tunneling current of normal metal-insulator-normal metal tunnel junctions

Bibliografiset tiedot
Päätekijä:	Koppinen, Panu
Muut tekijät:	Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta, Faculty of Sciences, Fysiikan laitos, Department of Physics, University of Jyväskylä, Jyväskylän yliopisto
Aineistotyyppi:	Pro gradu
Kieli:	eng
Julkaistu:	2003
Aiheet:	tunnel junction tunneling tunneling current electron tunneling temperature dependence bias voltage dependence 402
Linkit:	https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/8190

Internet

https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/8190