Ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella

Ohutpinnoitekalvoja käytetään eri teollisuuden aloilla muun muassa optisiin tarkoituksiin ja suojakerroksina. Hyperspektrikuvantamisessa mitataan sähkömagneettisen spektrin voimakkuutta usealla eri aallonpituudella. Hyperspektrikuvakuution sisältämän valtavan datamäärän takia hyperspektrikuvantamist...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Rautio, Atte
Other Authors: Informaatioteknologian tiedekunta, Faculty of Information Technology, Informaatioteknologia, Information Technology, Jyväskylän yliopisto, University of Jyväskylä
Format: Master's thesis
Language:fin
Published: 2019
Subjects:
Online Access: https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/63590
_version_ 1828193080463851520
author Rautio, Atte
author2 Informaatioteknologian tiedekunta Faculty of Information Technology Informaatioteknologia Information Technology Jyväskylän yliopisto University of Jyväskylä
author_facet Rautio, Atte Informaatioteknologian tiedekunta Faculty of Information Technology Informaatioteknologia Information Technology Jyväskylän yliopisto University of Jyväskylä Rautio, Atte Informaatioteknologian tiedekunta Faculty of Information Technology Informaatioteknologia Information Technology Jyväskylän yliopisto University of Jyväskylä
author_sort Rautio, Atte
datasource_str_mv jyx
description Ohutpinnoitekalvoja käytetään eri teollisuuden aloilla muun muassa optisiin tarkoituksiin ja suojakerroksina. Hyperspektrikuvantamisessa mitataan sähkömagneettisen spektrin voimakkuutta usealla eri aallonpituudella. Hyperspektrikuvakuution sisältämän valtavan datamäärän takia hyperspektrikuvantamista voidaan hyödyntää useisiin eri tutkimustarkoituksiin. Tutkielmassa tutkittiin valon transmissiota ja reflektanssia ja pyrittiin kehittämään menetelmä, jolla ohutpinnoitekalvojen paksuuksia voisi mitata. Tutkimustulokset ovat tässä suuntaa-antavia, ja jatkotutkimusta menetelmän kehittämiseksi tarvitaan. Luotettavaa mallia pinnoitteiden paksuuden mittaamiseen ei onnistuttu kehittämään.
first_indexed 2019-08-19T08:21:13Z
format Pro gradu
free_online_boolean 1
fullrecord [{"key": "dc.contributor.advisor", "value": "P\u00f6l\u00f6nen, Ilkka", "language": "", "element": "contributor", "qualifier": "advisor", "schema": "dc"}, {"key": "dc.contributor.advisor", "value": "Tuovinen, Tero", "language": "", "element": "contributor", "qualifier": "advisor", "schema": "dc"}, {"key": "dc.contributor.author", "value": "Rautio, Atte", "language": "", "element": "contributor", "qualifier": "author", "schema": "dc"}, {"key": "dc.date.accessioned", "value": "2019-04-24T08:13:16Z", "language": null, "element": "date", "qualifier": "accessioned", "schema": "dc"}, {"key": "dc.date.available", "value": "2019-04-24T08:13:16Z", "language": null, "element": "date", "qualifier": "available", "schema": "dc"}, {"key": "dc.date.issued", "value": "2019", "language": "", "element": "date", "qualifier": "issued", "schema": "dc"}, {"key": "dc.identifier.uri", "value": "https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/63590", "language": null, "element": "identifier", "qualifier": "uri", "schema": "dc"}, {"key": "dc.description.abstract", "value": "Ohutpinnoitekalvoja k\u00e4ytet\u00e4\u00e4n eri teollisuuden aloilla muun muassa optisiin\ntarkoituksiin ja suojakerroksina. Hyperspektrikuvantamisessa mitataan s\u00e4hk\u00f6magneettisen\nspektrin voimakkuutta usealla eri aallonpituudella. Hyperspektrikuvakuution sis\u00e4lt\u00e4m\u00e4n valtavan\ndatam\u00e4\u00e4r\u00e4n takia hyperspektrikuvantamista voidaan hy\u00f6dynt\u00e4\u00e4 useisiin eri tutkimustarkoituksiin.\nTutkielmassa tutkittiin valon transmissiota ja reflektanssia ja pyrittiin kehitt\u00e4m\u00e4\u00e4n\nmenetelm\u00e4, jolla ohutpinnoitekalvojen paksuuksia voisi mitata. Tutkimustulokset ovat\nt\u00e4ss\u00e4 suuntaa-antavia, ja jatkotutkimusta menetelm\u00e4n kehitt\u00e4miseksi tarvitaan. Luotettavaa\nmallia pinnoitteiden paksuuden mittaamiseen ei onnistuttu kehitt\u00e4m\u00e4\u00e4n.", "language": "fi", "element": "description", "qualifier": "abstract", "schema": "dc"}, {"key": "dc.description.provenance", "value": "Submitted by Paivi Vuorio (paelvuor@jyu.fi) on 2019-04-24T08:13:16Z\nNo. of bitstreams: 0", "language": "en", "element": "description", "qualifier": "provenance", "schema": "dc"}, {"key": "dc.description.provenance", "value": "Made available in DSpace on 2019-04-24T08:13:16Z (GMT). No. of bitstreams: 0\n Previous issue date: 2019", "language": "en", "element": "description", "qualifier": "provenance", "schema": "dc"}, {"key": "dc.format.extent", "value": "54", "language": "", "element": "format", "qualifier": "extent", "schema": "dc"}, {"key": "dc.format.mimetype", "value": "application/pdf", "language": null, "element": "format", "qualifier": "mimetype", "schema": "dc"}, {"key": "dc.language.iso", "value": "fin", "language": null, "element": "language", "qualifier": "iso", "schema": "dc"}, {"key": "dc.rights", "value": "In Copyright", "language": "en", "element": "rights", "qualifier": null, "schema": "dc"}, {"key": "dc.title", "value": "Ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella", "language": "", "element": "title", "qualifier": null, "schema": "dc"}, {"key": "dc.type", "value": "master thesis", "language": null, "element": "type", "qualifier": null, "schema": "dc"}, {"key": "dc.identifier.urn", "value": "URN:NBN:fi:jyu-201904242256", "language": "", "element": "identifier", "qualifier": "urn", "schema": "dc"}, {"key": "dc.type.ontasot", "value": "Pro gradu -tutkielma", "language": "fi", "element": "type", "qualifier": "ontasot", "schema": "dc"}, {"key": "dc.type.ontasot", "value": "Master\u2019s thesis", "language": "en", "element": "type", "qualifier": "ontasot", "schema": "dc"}, {"key": "dc.contributor.faculty", "value": "Informaatioteknologian tiedekunta", "language": "fi", "element": "contributor", "qualifier": "faculty", "schema": "dc"}, {"key": "dc.contributor.faculty", "value": "Faculty of Information Technology", "language": "en", "element": "contributor", "qualifier": "faculty", "schema": "dc"}, {"key": "dc.contributor.department", "value": "Informaatioteknologia", "language": "fi", "element": "contributor", "qualifier": "department", "schema": "dc"}, {"key": "dc.contributor.department", "value": "Information Technology", "language": "en", "element": "contributor", "qualifier": "department", "schema": "dc"}, {"key": "dc.contributor.organization", "value": "Jyv\u00e4skyl\u00e4n yliopisto", "language": "fi", "element": "contributor", "qualifier": "organization", "schema": "dc"}, {"key": "dc.contributor.organization", "value": "University of Jyv\u00e4skyl\u00e4", "language": "en", "element": "contributor", "qualifier": "organization", "schema": "dc"}, {"key": "dc.subject.discipline", "value": "Tietotekniikka", "language": "fi", "element": "subject", "qualifier": "discipline", "schema": "dc"}, {"key": "dc.subject.discipline", "value": "Mathematical Information Technology", "language": "en", "element": "subject", "qualifier": "discipline", "schema": "dc"}, {"key": "yvv.contractresearch.funding", "value": "0", "language": "", "element": "contractresearch", "qualifier": "funding", "schema": "yvv"}, {"key": "dc.type.coar", "value": "http://purl.org/coar/resource_type/c_bdcc", "language": null, "element": "type", "qualifier": "coar", "schema": "dc"}, {"key": "dc.rights.accesslevel", "value": "openAccess", "language": null, "element": "rights", "qualifier": "accesslevel", "schema": "dc"}, {"key": "dc.type.publication", "value": "masterThesis", "language": null, "element": "type", "qualifier": "publication", "schema": "dc"}, {"key": "dc.subject.oppiainekoodi", "value": "602", "language": "", "element": "subject", "qualifier": "oppiainekoodi", "schema": "dc"}, {"key": "dc.subject.yso", "value": "mittaus", "language": null, "element": "subject", "qualifier": "yso", "schema": "dc"}, {"key": "dc.subject.yso", "value": "paksuus", "language": null, "element": "subject", "qualifier": "yso", "schema": "dc"}, {"key": "dc.subject.yso", "value": "pinnoitteet", "language": null, "element": "subject", "qualifier": "yso", "schema": "dc"}, {"key": "dc.format.content", "value": "fulltext", "language": null, "element": "format", "qualifier": "content", "schema": "dc"}, {"key": "dc.rights.url", "value": "https://rightsstatements.org/page/InC/1.0/", "language": null, "element": "rights", "qualifier": "url", "schema": "dc"}, {"key": "dc.type.okm", "value": "G2", "language": null, "element": "type", "qualifier": "okm", "schema": "dc"}]
id jyx.123456789_63590
language fin
last_indexed 2025-03-31T20:01:10Z
main_date 2019-01-01T00:00:00Z
main_date_str 2019
online_boolean 1
online_urls_str_mv {"url":"https:\/\/jyx.jyu.fi\/bitstreams\/59f032f9-eb0e-49f8-9846-4b2d18e61229\/download","text":"URN:NBN:fi:jyu-201904242256.pdf","source":"jyx","mediaType":"application\/pdf"}
publishDate 2019
record_format qdc
source_str_mv jyx
spellingShingle Rautio, Atte Ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella Tietotekniikka Mathematical Information Technology 602 mittaus paksuus pinnoitteet
title Ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella
title_full Ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella
title_fullStr Ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella Ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella
title_full_unstemmed Ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella Ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella
title_short Ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella
title_sort ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella
title_txtP Ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella
topic Tietotekniikka Mathematical Information Technology 602 mittaus paksuus pinnoitteet
topic_facet 602 Mathematical Information Technology Tietotekniikka mittaus paksuus pinnoitteet
url https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/63590 http://www.urn.fi/URN:NBN:fi:jyu-201904242256
work_keys_str_mv AT rautioatte ohutpinnoitekalvojenpaksuudenmittaushyperspektrikuvantamisella