Ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella

Ohutpinnoitekalvoja käytetään eri teollisuuden aloilla muun muassa optisiin tarkoituksiin ja suojakerroksina. Hyperspektrikuvantamisessa mitataan sähkömagneettisen spektrin voimakkuutta usealla eri aallonpituudella. Hyperspektrikuvakuution sisältämän valtavan datamäärän takia hyperspektrikuvantamist...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Rautio, Atte
Other Authors: Informaatioteknologian tiedekunta, Faculty of Information Technology, Informaatioteknologia, Information Technology, Jyväskylän yliopisto, University of Jyväskylä
Format: Master's thesis
Language:fin
Published: 2019
Subjects:
Online Access: https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/63590