Ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella

Bibliographic Details
Main Author: Rautio, Atte
Other Authors: Informaatioteknologian tiedekunta, Faculty of Information Technology, Informaatioteknologia, Information Technology, Jyväskylän yliopisto, University of Jyväskylä, Tietotekniikka, Mathematical Information Technology, 602
Format: Master's thesis
Language:fin
Published: 2019
Subjects:
Online Access: https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/63590
_version_ 1809901379091693568
annif_keywords_txtF_mv mittaus paksuus ohutkalvot kuvantaminen mittausmenetelmät
annif_uris_txtF_mv http://www.yso.fi/onto/yso/p4794 http://www.yso.fi/onto/yso/p21144 http://www.yso.fi/onto/yso/p16644 http://www.yso.fi/onto/yso/p3532 http://www.yso.fi/onto/yso/p20083
author Rautio, Atte
author2 Informaatioteknologian tiedekunta Faculty of Information Technology Informaatioteknologia Information Technology Jyväskylän yliopisto University of Jyväskylä Tietotekniikka Mathematical Information Technology 602
author_facet Rautio, Atte Informaatioteknologian tiedekunta Faculty of Information Technology Informaatioteknologia Information Technology Jyväskylän yliopisto University of Jyväskylä Tietotekniikka Mathematical Information Technology 602 Rautio, Atte
author_sort Rautio, Atte
building Jyväskylän yliopisto JYX-julkaisuarkisto
datasource_str_mv jyx
department_txtF Informaatioteknologia
faculty_txtF Informaatioteknologian tiedekunta
first_indexed 2019-08-19T08:21:13Z
format Pro gradu
format_ext_str_mv Opinnäyte Pro gradu
free_online_boolean 1
fullrecord <?xml version="1.0"?> <qualifieddc schemaLocation="http://purl.org/dc/terms/ http://dublincore.org/schemas/xmls/qdc/2006/01/06/dcterms.xsd http://purl.org/dc/elements/1.1/ http://dublincore.org/schemas/xmls/qdc/2006/01/06/dc.xsd"><title>Ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella</title><creator>Rautio, Atte</creator><contributor type="tiedekunta" lang="fi">Informaatioteknologian tiedekunta</contributor><contributor type="tiedekunta" lang="en">Faculty of Information Technology</contributor><contributor type="laitos" lang="fi">Informaatioteknologia</contributor><contributor type="laitos" lang="en">Information Technology</contributor><contributor type="yliopisto" lang="fi">Jyv&#xE4;skyl&#xE4;n yliopisto</contributor><contributor type="yliopisto" lang="en">University of Jyv&#xE4;skyl&#xE4;</contributor><contributor type="oppiaine" lang="fi">Tietotekniikka</contributor><contributor type="oppiaine" lang="en">Mathematical Information Technology</contributor><contributor type="oppiainekoodi">602</contributor><subject type="yso">mittaus</subject><subject type="yso">paksuus</subject><subject type="yso">pinnoitteet</subject><available>2019-04-24T08:13:16Z</available><issued>2019</issued><type lang="fi">Pro gradu -tutkielma</type><type lang="en">Master&#x2019;s thesis</type><identifier type="uri">https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/63590</identifier><identifier type="urn">URN:NBN:fi:jyu-201904242256</identifier><language type="iso">fi</language><rights type="copyright" lang="fi">Julkaisu on tekij&#xE4;noikeuss&#xE4;&#xE4;nn&#xF6;sten alainen. Teosta voi lukea ja tulostaa henkil&#xF6;kohtaista k&#xE4;ytt&#xF6;&#xE4; varten. K&#xE4;ytt&#xF6; kaupallisiin tarkoituksiin on kielletty.</rights><rights type="copyright" lang="en">This publication is copyrighted. You may download, display and print it for Your own personal use. Commercial use is prohibited.</rights><permaddress type="urn">http://www.urn.fi/URN:NBN:fi:jyu-201904242256</permaddress><file bundle="ORIGINAL" href="https://jyx.jyu.fi/bitstream/123456789/63590/1/URN%3aNBN%3afi%3ajyu-201904242256.pdf" name="URN:NBN:fi:jyu-201904242256.pdf" type="application/pdf" length="7126489" sequence="1"/><recordID>123456789_63590</recordID></qualifieddc>
id jyx.123456789_63590
language fin
last_indexed 2024-09-03T10:49:54Z
main_date 2019-01-01T00:00:00Z
main_date_str 2019
online_boolean 1
online_urls_str_mv {"url":"https:\/\/jyx.jyu.fi\/bitstream\/123456789\/63590\/1\/URN%3aNBN%3afi%3ajyu-201904242256.pdf","text":"URN:NBN:fi:jyu-201904242256.pdf","source":"jyx","mediaType":"application\/pdf"}
oppiainekoodi_txtF 602
publication_first_indexed 2019-08-19T08:21:13Z
publishDate 2019
record_format qdc
source_str_mv jyx
spellingShingle Rautio, Atte Ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella mittaus paksuus pinnoitteet
subject_txtF Tietotekniikka
thumbnail https://jyu.finna.fi/Cover/Show?source=Solr&id=jyx.123456789_63590&index=0&size=large
title Ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella
title_full Ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella
title_fullStr Ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella Ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella
title_full_unstemmed Ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella Ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella
title_short Ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella
title_sort ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella
title_txtP Ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella
topic mittaus paksuus pinnoitteet
topic_facet mittaus paksuus pinnoitteet
url https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/63590 http://www.urn.fi/URN:NBN:fi:jyu-201904242256
work_keys_str_mv AT rautioatte ohutpinnoitekalvojenpaksuudenmittaushyperspektrikuvantamisella