Ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella
Ohutpinnoitekalvoja käytetään eri teollisuuden aloilla muun muassa optisiin tarkoituksiin ja suojakerroksina. Hyperspektrikuvantamisessa mitataan sähkömagneettisen spektrin voimakkuutta usealla eri aallonpituudella. Hyperspektrikuvakuution sisältämän valtavan datamäärän takia hyperspektrikuvantamist...
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Muut tekijät: | , , , , , |
| Aineistotyyppi: | Pro gradu |
| Kieli: | fin |
| Julkaistu: |
2019
|
| Aiheet: | |
| Linkit: | https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/63590 |
| Yhteenveto: | Ohutpinnoitekalvoja käytetään eri teollisuuden aloilla muun muassa optisiin
tarkoituksiin ja suojakerroksina. Hyperspektrikuvantamisessa mitataan sähkömagneettisen
spektrin voimakkuutta usealla eri aallonpituudella. Hyperspektrikuvakuution sisältämän valtavan
datamäärän takia hyperspektrikuvantamista voidaan hyödyntää useisiin eri tutkimustarkoituksiin.
Tutkielmassa tutkittiin valon transmissiota ja reflektanssia ja pyrittiin kehittämään
menetelmä, jolla ohutpinnoitekalvojen paksuuksia voisi mitata. Tutkimustulokset ovat
tässä suuntaa-antavia, ja jatkotutkimusta menetelmän kehittämiseksi tarvitaan. Luotettavaa
mallia pinnoitteiden paksuuden mittaamiseen ei onnistuttu kehittämään.
|
|---|