Rautio, A., tiedekunta, I., Technology, F. o. I., Informaatioteknologia, Technology, I., yliopisto, J., & Jyväskylä, U. o. (2019). Ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella.
Chicago-viite (17. p.)Rautio, Atte, Informaatioteknologian tiedekunta, Faculty of Information Technology, Informaatioteknologia, Information Technology, Jyväskylän yliopisto, ja University of Jyväskylä. Ohutpinnoitekalvojen Paksuuden Mittaus Hyperspektrikuvantamisella. 2019.
MLA-viite (9. p.)Rautio, Atte, et al. Ohutpinnoitekalvojen Paksuuden Mittaus Hyperspektrikuvantamisella. 2019.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.