Rautio, A., tiedekunta, I., Technology, F. o. I., Informaatioteknologia, Technology, I., yliopisto, J., & Jyväskylä, U. o. (2019). Ohutpinnoitekalvojen paksuuden mittaus hyperspektrikuvantamisella.
Chicago Style (17th ed.) CitationRautio, Atte, Informaatioteknologian tiedekunta, Faculty of Information Technology, Informaatioteknologia, Information Technology, Jyväskylän yliopisto, and University of Jyväskylä. Ohutpinnoitekalvojen Paksuuden Mittaus Hyperspektrikuvantamisella. 2019.
MLA (9th ed.) CitationRautio, Atte, et al. Ohutpinnoitekalvojen Paksuuden Mittaus Hyperspektrikuvantamisella. 2019.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.