Aihe-ehdotuksia
Näytetään 1 - 2 yhteensä 2 tuloksesta haulle '"elemental depth profiling"', hakuaika: 0,02s Tarkenna hakua
  1. 1
    Improvement of time-of-flight spectrometer for elastic recoil detection analysis

    Improvement of time-of-flight spectrometer for elastic recoil detection analysis Tekijä Laitinen Mikko, kirjoittaja

    Julkaistu 2013
    Aiheet:
    JYX julkaisuarkisto / JYX Digital Archive
    Väitöskirja
  2. 2
    Improvement of time-of-flight spectrometer for elastic recoil detection analysis

    Improvement of time-of-flight spectrometer for elastic recoil detection analysis Tekijä Laitinen Mikko, kirjoittaja

    Julkaistu 2013
    Aiheet:
    Väitöskirja
Työkalut: RSS-syöte