Aihe-ehdotuksia
- mikroelektroniikka 14
- microelectronics 9
- 4022 5
- Electronics 5
- Elektroniikka 5
- radiation 5
- säteily 5
- electronics 4
- 4023 3
- Applied Physics 3
- Soveltava fysiikka 3
- simulation 3
- simulointi 3
- elektroniikka 2
- fysiikka 2
- heavy ions 2
- hiukkassäteily 2
- radiaton effects 2
- recombination 2
- silicon 2
- silicon dioxide 2
- stopping force 2
- transistorit 2
- verification 2
- verifiointi 2
- 28nm CMOS technology 1
- 4021 1
- BJT 1
- CERN 1
- Cadence Tempus 1
-
1
On bounding approach for timing simulation of digital integrated circuits
Julkaistu 1994Aiheet: “…mikroelektroniikka…”
Väitöskirja -
2
Mikromekaanisten palkkien käyttö bioantureina lämpötila- ja massamittauksissa
Julkaistu 2003Aiheet: “…mikroelektroniikka…”
Pro gradu -
3
In-situ SEE detection in integrated flip-flops
Julkaistu 2023Aiheet: Hae kokoteksti Hae kokotekstiPro gradu -
4
Particle radiation in microelectronics
Julkaistu 2012Aiheet: JYX julkaisuarkisto / JYX Digital Archive
Väitöskirja -
5
Single event effects instrumentation for system-on module testing
Julkaistu 2024Aiheet: Hae kokoteksti Hae kokotekstiPro gradu -
6
Comparison of heavy ion and pulsed laser single-event effect test data for analogue and digital devices
Julkaistu 2024Aiheet: Hae kokoteksti Hae kokotekstiPro gradu -
7
Particle radiation in microelectronics
Julkaistu 2012Aiheet: Yhteenveto-osa:
Yhteenveto-osa
Väitöskirja -
8
-
9
Template code generator for design verification based on universal verification methodology
Julkaistu 2023Aiheet: Hae kokoteksti Hae kokotekstiPro gradu -
10
Total ionizing dose analysis of SAR ADC for space applications
Julkaistu 2024Aiheet: Hae kokoteksti Hae kokotekstiPro gradu -
11
Precise delay generation using differential-input delay cells used in delay-locked-loop
Julkaistu 2023Aiheet: Hae kokoteksti Hae kokotekstiPro gradu -
12
Exploring and modeling of non-linearity in BJT to optimize it for Wi-Fi 7 power amplifiers
Julkaistu 2024Aiheet: Hae kokoteksti Hae kokotekstiPro gradu -
13
Ultra-high doses tests on 28nm CMOS technology for high energy physics application
Julkaistu 2024Aiheet: Hae kokoteksti Hae kokotekstiPro gradu -
14
Study of IR-drop induced jitter in high precision timing ASICs
Julkaistu 2024Aiheet: Hae kokoteksti Hae kokotekstiPro gradu