Näytetään 1 - 1 yhteensä 1 tuloksesta haulle '' Siirry sisältöön
University of Jyväskylä | Opinnäytehaku
  • Kieli
    • Suomi
    • English
University of Jyväskylä | Opinnäytehaku
Kieli
  • Suomi
  • English
Tarkennettu
Käytetyt suodattimet:
Asiasanat: Poista suodatin pixelated detectors and associated VLSI circuits
Sivu ladataan uudelleen, kun suodatin poistetaan.
Poista rajaukset
Sivu ladataan uudelleen, kun suodatin poistetaan.
Poista rajaukset
Näytä rajaukset (1)
Asiasanat: Poista suodatin pixelated detectors and associated VLSI circuits

Hakutulokset

Aihe-ehdotuksia
  • 4022 1
  • CERN 1
  • Cadence Tempus 1
  • Cadence Voltus 1
  • Electronics 1
  • Elektroniikka 1
  • IR drop 1
  • TIE jitter 1
  • cadences 1
  • digital electronic circuits 1
  • electronics 1
  • elektroniikka 1
  • jitter 1
  • lopukkeet 1
  • luotettavuus 1
  • microelectronics 1
  • mikroelektroniikka 1
  • pixelated detectors and associated VLSI circuits
  • reliability (general) 1
  • simulaattorit 1
  • simulation 1
  • simulators 1
  • simulointi 1
  • timing detectors 1
  • verification 1
  • verifiointi 1
Näytetään 1 - 1 yhteensä 1 tuloksesta haulle '', hakuaika: 0,01s Tarkenna hakua
  1. 1
    Study of IR-drop induced jitter in high precision timing ASICs

    Study of IR-drop induced jitter in high precision timing ASICs Tekijä Peninon Herbaut, David

    Julkaistu 2024
    Hae kokoteksti Hae kokoteksti
    Pro gradu
Työkalut: RSS-syöte

Tarkenna hakua

Sivu ladataan uudelleen, kun suodatin valitaan tai jätetään pois.
Verkossa saatavilla

  • Pro gradu 1 tulosta 1

  • 4022 1 tulosta 1
  • CERN 1 tulosta 1
  • Cadence Tempus 1 tulosta 1
  • Cadence Voltus 1 tulosta 1
  • Electronics 1 tulosta 1
  • Elektroniikka 1 tulosta 1
  • IR drop 1 tulosta 1
  • TIE jitter 1 tulosta 1
  • cadences 1 tulosta 1
  • digital electronic circuits 1 tulosta 1
  • electronics 1 tulosta 1
  • elektroniikka 1 tulosta 1
  • jitter 1 tulosta 1
  • lopukkeet 1 tulosta 1
  • luotettavuus 1 tulosta 1
  • microelectronics 1 tulosta 1
  • mikroelektroniikka 1 tulosta 1
  • pixelated detectors and associated VLSI circuits
  • reliability (general) 1 tulosta 1
  • simulaattorit 1 tulosta 1
  • simulation 1 tulosta 1
  • simulators 1 tulosta 1
  • simulointi 1 tulosta 1
  • timing detectors 1 tulosta 1
  • verification 1 tulosta 1
  • verifiointi 1 tulosta 1
  • näytä kaikki…

  • eng 1 tulosta 1

Hakuvaihtoehdot

  • Hakuhistoria
  • Tarkennettu haku
  • Uutuusluettelo

Tarvitsetko apua?

  • Hakuohje

Yhteystiedot

  • University of Jyväskylä
  • Avoimen tiedon keskus
  • Saavutettavuusselostus