Aihe-ehdotuksia
- microelectronics
- mikroelektroniikka 9
- 4022 5
- Electronics 5
- Elektroniikka 5
- radiation 5
- säteily 5
- 4023 3
- Applied Physics 3
- Soveltava fysiikka 3
- simulation 3
- simulointi 3
- electronics 2
- elektroniikka 2
- verification 2
- verifiointi 2
- 28nm CMOS technology 1
- 4021 1
- BJT 1
- CERN 1
- Cadence Tempus 1
- Cadence Voltus 1
- FPGA 1
- Fysiikka 1
- HBT 1
- HICUM 1
- IR drop 1
- Lee-Kim cell 1
- Maneatis cell 1
- Monte Carlo 1
-
1
Single event effects instrumentation for system-on module testing
Julkaistu 2024Hae kokoteksti Hae kokotekstiPro gradu -
2
-
3
Total ionizing dose analysis of SAR ADC for space applications
Julkaistu 2024Hae kokoteksti Hae kokotekstiPro gradu -
4
-
5
Study of IR-drop induced jitter in high precision timing ASICs
Julkaistu 2024Hae kokoteksti Hae kokotekstiPro gradu -
6
-
7
-
8
In-situ SEE detection in integrated flip-flops
Julkaistu 2023Hae kokoteksti Hae kokotekstiPro gradu -
9