Mittauslaitteiston diagnostiikka
Yritysten informaatioteknologian kasvun myötä teknologiaratkaisujen saatavuus on noussut yhä tärkeämmäksi erityisesti teollisuuden järjestelmissä. Laitteiden virhetilanteista toipuminen käyttää paljon sekä ajallisia että rahallisia resursseja ja lisää niiden haavoittuvuutta. Tämän tutkielman tarkoit...
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Muut tekijät: | , , , |
| Aineistotyyppi: | Pro gradu |
| Kieli: | fin |
| Julkaistu: |
2024
|
| Aiheet: | |
| Linkit: | https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/99036 |