Mittauslaitteiston diagnostiikka

Yritysten informaatioteknologian kasvun myötä teknologiaratkaisujen saatavuus on noussut yhä tärkeämmäksi erityisesti teollisuuden järjestelmissä. Laitteiden virhetilanteista toipuminen käyttää paljon sekä ajallisia että rahallisia resursseja ja lisää niiden haavoittuvuutta. Tämän tutkielman tarkoit...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Latikka, Säde
Other Authors: Informaatioteknologian tiedekunta, Faculty of Information Technology, Jyväskylän yliopisto, University of Jyväskylä
Format: Master's thesis
Language:fin
Published: 2024
Subjects:
Online Access: https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/99036
_version_ 1826225685812740096
author Latikka, Säde
author2 Informaatioteknologian tiedekunta Faculty of Information Technology Jyväskylän yliopisto University of Jyväskylä
author_facet Latikka, Säde Informaatioteknologian tiedekunta Faculty of Information Technology Jyväskylän yliopisto University of Jyväskylä Latikka, Säde Informaatioteknologian tiedekunta Faculty of Information Technology Jyväskylän yliopisto University of Jyväskylä
author_sort Latikka, Säde
datasource_str_mv jyx
description Yritysten informaatioteknologian kasvun myötä teknologiaratkaisujen saatavuus on noussut yhä tärkeämmäksi erityisesti teollisuuden järjestelmissä. Laitteiden virhetilanteista toipuminen käyttää paljon sekä ajallisia että rahallisia resursseja ja lisää niiden haavoittuvuutta. Tämän tutkielman tarkoituksena on taustoittaa ensin diagnostiikan merkitystä virhetilanteista toipumisessa ja niiden ehkäisemisessä. Tämän jälkeen esitellään tapaustutkimus, jossa toteutetaan laitediagnostiikka yrityksen mittauslaitteistoon suunnittelutieteen periaatteiden mukaisesti ja näin antaa ymmärrystä siitä, mitä laitediagnostiikan toteutukseen tarvitaan pohjimmiltaan. Tutkimuksen tuloksena syntyi yrityksen käyttöön mittauslaitteiston diagnostiikkaratkaisun arkkitehtuuri ja toteutettu ohjelma. Toteutusratkaisu toteutettiin yrityksen testiympäristössä ja testausvaiheessa otettiin käyttöön erillisessä laiteympäristössä. Diagnostiikkaohjelman myötä yritys voi saada dataa kohdelaitteesta ja havaita siitä poikkeamia sekä historiatietoa analysoimalla tehdä johtopäätöksiä virhetilanteiden syistä.
first_indexed 2024-12-18T21:05:22Z
format Pro gradu
free_online_boolean 1
fullrecord [{"key": "dc.contributor.advisor", "value": "Itkonen, Jonne", "language": null, "element": "contributor", "qualifier": "advisor", "schema": "dc"}, {"key": "dc.contributor.author", "value": "Latikka, S\u00e4de", "language": null, "element": "contributor", "qualifier": "author", "schema": "dc"}, {"key": "dc.date.accessioned", "value": "2024-12-17T14:18:15Z", "language": null, "element": "date", "qualifier": "accessioned", "schema": "dc"}, {"key": "dc.date.available", "value": "2024-12-17T14:18:15Z", "language": null, "element": "date", "qualifier": "available", "schema": "dc"}, {"key": "dc.date.issued", "value": "2024", "language": null, "element": "date", "qualifier": "issued", "schema": "dc"}, {"key": "dc.identifier.uri", "value": "https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/99036", "language": null, "element": "identifier", "qualifier": "uri", "schema": "dc"}, {"key": "dc.description.abstract", "value": "Yritysten informaatioteknologian kasvun my\u00f6t\u00e4 teknologiaratkaisujen saatavuus on noussut yh\u00e4 t\u00e4rke\u00e4mm\u00e4ksi erityisesti teollisuuden j\u00e4rjestelmiss\u00e4. Laitteiden virhetilanteista toipuminen k\u00e4ytt\u00e4\u00e4 paljon sek\u00e4 ajallisia ett\u00e4 rahallisia resursseja ja lis\u00e4\u00e4 niiden haavoittuvuutta. T\u00e4m\u00e4n tutkielman tarkoituksena on taustoittaa ensin diagnostiikan merkityst\u00e4 virhetilanteista toipumisessa ja niiden ehk\u00e4isemisess\u00e4. T\u00e4m\u00e4n j\u00e4lkeen esitell\u00e4\u00e4n tapaustutkimus, jossa toteutetaan laitediagnostiikka yrityksen mittauslaitteistoon suunnittelutieteen periaatteiden mukaisesti ja n\u00e4in antaa ymm\u00e4rryst\u00e4 siit\u00e4, mit\u00e4 laitediagnostiikan toteutukseen tarvitaan pohjimmiltaan. Tutkimuksen tuloksena syntyi yrityksen k\u00e4ytt\u00f6\u00f6n mittauslaitteiston diagnostiikkaratkaisun arkkitehtuuri ja toteutettu ohjelma. Toteutusratkaisu toteutettiin yrityksen testiymp\u00e4rist\u00f6ss\u00e4 ja testausvaiheessa otettiin k\u00e4ytt\u00f6\u00f6n erillisess\u00e4 laiteymp\u00e4rist\u00f6ss\u00e4. Diagnostiikkaohjelman my\u00f6t\u00e4 yritys voi saada dataa kohdelaitteesta ja havaita siit\u00e4 poikkeamia sek\u00e4 historiatietoa analysoimalla tehd\u00e4 johtop\u00e4\u00e4t\u00f6ksi\u00e4 virhetilanteiden syist\u00e4.", "language": "fi", "element": "description", "qualifier": "abstract", "schema": "dc"}, {"key": "dc.description.provenance", "value": "Submitted by jyx lomake-julkaisija (jyx-julkaisija.group@korppi.jyu.fi) on 2024-12-17T14:18:15Z\nNo. of bitstreams: 0", "language": "en", "element": "description", "qualifier": "provenance", "schema": "dc"}, {"key": "dc.description.provenance", "value": "Made available in DSpace on 2024-12-17T14:18:15Z (GMT). No. of bitstreams: 0", "language": "en", "element": "description", "qualifier": "provenance", "schema": "dc"}, {"key": "dc.format.extent", "value": "39", "language": null, "element": "format", "qualifier": "extent", "schema": "dc"}, {"key": "dc.format.mimetype", "value": "application/pdf", "language": null, "element": "format", "qualifier": "mimetype", "schema": "dc"}, {"key": "dc.language.iso", "value": "fin", "language": null, "element": "language", "qualifier": "iso", "schema": "dc"}, {"key": "dc.rights", "value": "CC BY 4.0", "language": "en", "element": "rights", "qualifier": null, "schema": "dc"}, {"key": "dc.title", "value": "Mittauslaitteiston diagnostiikka", "language": null, "element": "title", "qualifier": null, "schema": "dc"}, {"key": "dc.type", "value": "master thesis", "language": null, "element": "type", "qualifier": null, "schema": "dc"}, {"key": "dc.identifier.urn", "value": "URN:NBN:fi:jyu-202412177849", "language": null, "element": "identifier", "qualifier": "urn", "schema": "dc"}, {"key": "dc.contributor.faculty", "value": "Informaatioteknologian tiedekunta", "language": "fi", "element": "contributor", "qualifier": "faculty", "schema": "dc"}, {"key": "dc.contributor.faculty", "value": "Faculty of Information Technology", "language": "en", "element": "contributor", "qualifier": "faculty", "schema": "dc"}, {"key": "dc.contributor.organization", "value": "Jyv\u00e4skyl\u00e4n yliopisto", "language": "fi", "element": "contributor", "qualifier": "organization", "schema": "dc"}, {"key": "dc.contributor.organization", "value": "University of Jyv\u00e4skyl\u00e4", "language": "en", "element": "contributor", "qualifier": "organization", "schema": "dc"}, {"key": "dc.subject.discipline", "value": "Specialisation in Software Development", "language": "en", "element": "subject", "qualifier": "discipline", "schema": "dc"}, {"key": "dc.subject.discipline", "value": "Ohjelmistokehityksen opintosuunta", "language": "fi", "element": "subject", "qualifier": "discipline", "schema": "dc"}, {"key": "dc.type.coar", "value": "http://purl.org/coar/resource_type/c_bdcc", "language": null, "element": "type", "qualifier": "coar", "schema": "dc"}, {"key": "dc.rights.copyright", "value": "\u00a9 The Author(s)", "language": null, "element": "rights", "qualifier": "copyright", "schema": "dc"}, {"key": "dc.rights.accesslevel", "value": "openAccess", "language": null, "element": "rights", "qualifier": "accesslevel", "schema": "dc"}, {"key": "dc.type.publication", "value": "masterThesis", "language": null, "element": "type", "qualifier": "publication", "schema": "dc"}, {"key": "dc.format.content", "value": "fulltext", "language": null, "element": "format", "qualifier": "content", "schema": "dc"}, {"key": "dc.rights.url", "value": "https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/", "language": null, "element": "rights", "qualifier": "url", "schema": "dc"}]
id jyx.123456789_99036
language fin
last_indexed 2025-02-18T10:56:09Z
main_date 2024-01-01T00:00:00Z
main_date_str 2024
online_boolean 1
online_urls_str_mv {"url":"https:\/\/jyx.jyu.fi\/bitstreams\/38ae3ed1-23ff-4944-9011-b166b1fb9e94\/download","text":"URN:NBN:fi:jyu-202412177849.pdf","source":"jyx","mediaType":"application\/pdf"}
publishDate 2024
record_format qdc
source_str_mv jyx
spellingShingle Latikka, Säde Mittauslaitteiston diagnostiikka Specialisation in Software Development Ohjelmistokehityksen opintosuunta
title Mittauslaitteiston diagnostiikka
title_full Mittauslaitteiston diagnostiikka
title_fullStr Mittauslaitteiston diagnostiikka Mittauslaitteiston diagnostiikka
title_full_unstemmed Mittauslaitteiston diagnostiikka Mittauslaitteiston diagnostiikka
title_short Mittauslaitteiston diagnostiikka
title_sort mittauslaitteiston diagnostiikka
title_txtP Mittauslaitteiston diagnostiikka
topic Specialisation in Software Development Ohjelmistokehityksen opintosuunta
topic_facet Ohjelmistokehityksen opintosuunta Specialisation in Software Development
url https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/99036 http://www.urn.fi/URN:NBN:fi:jyu-202412177849
work_keys_str_mv AT latikkasäde mittauslaitteistondiagnostiikka