Prediction of single-event upset rate in semi-conductor devices using the space radiation software
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Muut tekijät: | , , |
| Aineistotyyppi: | Pro gradu |
| Kieli: | eng |
| Julkaistu: |
1997
|
| Aiheet: | |
| Linkit: | https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/98161 |
| Yhteenveto: |
|---|