Verronen, P., laitos, F., yliopisto, J., & Jyväskylä, U. o. (1997). Prediction of single-event upset rate in semi-conductor devices using the space radiation software.
Chicago-viite (17. p.)Verronen, Pekka, Fysiikan laitos, Jyväskylän yliopisto, ja University of Jyväskylä. Prediction of Single-event Upset Rate in Semi-conductor Devices Using the Space Radiation Software. 1997.
MLA-viite (9. p.)Verronen, Pekka, et al. Prediction of Single-event Upset Rate in Semi-conductor Devices Using the Space Radiation Software. 1997.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.