Lassila, R., laitos, F., Jyväskylä, U. o., & yliopisto, J. (2000). Automaattisen mittausympäristön suunnittelu testipuhelimille ja IC-piireille.
Chicago-viite (17. p.)Lassila, Riku, Fysiikan laitos, University of Jyväskylä, ja Jyväskylän yliopisto. Automaattisen Mittausympäristön Suunnittelu Testipuhelimille Ja IC-piireille. 2000.
MLA-viite (9. p.)Lassila, Riku, et al. Automaattisen Mittausympäristön Suunnittelu Testipuhelimille Ja IC-piireille. 2000.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.