AFM/MATLAB analysis of ion beam sputtered ultra-thin nanostuctures

Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Julukian, Armen
Muut tekijät: Fysiikan laitos, University of Jyväskylä, Jyväskylän yliopisto
Aineistotyyppi: Pro gradu
Kieli:fin
Julkaistu: 2009
Aiheet:
Linkit: https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/91639