Röntgenfluoresenssimittausten optimointi ohutkalvojen karakterisointiin

XRF-mittausten soveltuvuutta ja röntgenlähteen kiihdytysjännitteen sekä virran vaikutusta tutkittiin ohutkalvojen karakterisointiin. Käytössä oli 4 W röntgenlähde, jonka maksimi kiihdytysjännite oli 30 kV. Kuuden eripaksuisen (2, 5, 10, 20, 100, 300 nm) Al2O3-ohutkalvon XRF-spektrien Al-piikkien pin...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Kääriäinen, Jussi
Other Authors: Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta, Faculty of Sciences, Fysiikan laitos, Department of Physics, Jyväskylän yliopisto, University of Jyväskylä
Format: Master's thesis
Language:fin
Published: 2022
Subjects:
Online Access: https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/83713
_version_ 1826225693942349824
author Kääriäinen, Jussi
author2 Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta Faculty of Sciences Fysiikan laitos Department of Physics Jyväskylän yliopisto University of Jyväskylä
author_facet Kääriäinen, Jussi Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta Faculty of Sciences Fysiikan laitos Department of Physics Jyväskylän yliopisto University of Jyväskylä Kääriäinen, Jussi Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta Faculty of Sciences Fysiikan laitos Department of Physics Jyväskylän yliopisto University of Jyväskylä
author_sort Kääriäinen, Jussi
datasource_str_mv jyx
description XRF-mittausten soveltuvuutta ja röntgenlähteen kiihdytysjännitteen sekä virran vaikutusta tutkittiin ohutkalvojen karakterisointiin. Käytössä oli 4 W röntgenlähde, jonka maksimi kiihdytysjännite oli 30 kV. Kuuden eripaksuisen (2, 5, 10, 20, 100, 300 nm) Al2O3-ohutkalvon XRF-spektrien Al-piikkien pinta-alojen suhde kalvon paksuuteen sovitettiin suoraksi, missä onnistuttiin parhaiten röntgenlähteen parametreilla 15 kV 133,33 μA mitatuille spektreillä. Samalla menetelmällä tutkittiin 20, 50 ja 300 nm paksuisia Al2O3 / TiO2-nanolaminaatteja ja tässäkin röntgenlähteen parametrit 15 kV 133,33 μA osoittautuivat parhaaksi. Lisäksi Al2O3 / TiO2-nanolaminaattien XRF-spektreistä pystyttiin osoittamaan kvalitatiivisesti epäpuhtautena esiintyvä kloori. Sekä Al2O3-ohutkalvojen että Al2O3 / TiO2-nanolaminaattien XRF-spektristä pystyttiin erottamaan matalalla 0,52 keV energialla fluoresoiva happi.
first_indexed 2024-09-11T08:48:59Z
format Pro gradu
free_online_boolean 1
fullrecord [{"key": "dc.contributor.advisor", "value": "Laitinen, Mikko", "language": "", "element": "contributor", "qualifier": "advisor", "schema": "dc"}, {"key": "dc.contributor.author", "value": "K\u00e4\u00e4ri\u00e4inen, Jussi", "language": "", "element": "contributor", "qualifier": "author", "schema": "dc"}, {"key": "dc.date.accessioned", "value": "2022-10-27T05:16:54Z", "language": null, "element": "date", "qualifier": "accessioned", "schema": "dc"}, {"key": "dc.date.available", "value": "2022-10-27T05:16:54Z", "language": null, "element": "date", "qualifier": "available", "schema": "dc"}, {"key": "dc.date.issued", "value": "2022", "language": "", "element": "date", "qualifier": "issued", "schema": "dc"}, {"key": "dc.identifier.uri", "value": "https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/83713", "language": null, "element": "identifier", "qualifier": "uri", "schema": "dc"}, {"key": "dc.description.abstract", "value": "XRF-mittausten soveltuvuutta ja r\u00f6ntgenl\u00e4hteen kiihdytysj\u00e4nnitteen sek\u00e4 virran vaikutusta tutkittiin ohutkalvojen karakterisointiin. K\u00e4yt\u00f6ss\u00e4 oli 4 W r\u00f6ntgenl\u00e4hde, jonka maksimi kiihdytysj\u00e4nnite oli 30 kV. Kuuden eripaksuisen (2, 5, 10, 20, 100, 300 nm) Al2O3-ohutkalvon XRF-spektrien Al-piikkien pinta-alojen suhde kalvon paksuuteen sovitettiin suoraksi, miss\u00e4 onnistuttiin parhaiten r\u00f6ntgenl\u00e4hteen parametreilla 15 kV 133,33 \u03bcA mitatuille spektreill\u00e4. Samalla menetelm\u00e4ll\u00e4 tutkittiin 20, 50 ja 300 nm paksuisia Al2O3 / TiO2-nanolaminaatteja ja t\u00e4ss\u00e4kin r\u00f6ntgenl\u00e4hteen parametrit 15 kV 133,33 \u03bcA osoittautuivat parhaaksi. Lis\u00e4ksi Al2O3 / TiO2-nanolaminaattien XRF-spektreist\u00e4 pystyttiin osoittamaan kvalitatiivisesti ep\u00e4puhtautena esiintyv\u00e4 kloori. Sek\u00e4 Al2O3-ohutkalvojen ett\u00e4 Al2O3 / TiO2-nanolaminaattien XRF-spektrist\u00e4 pystyttiin erottamaan matalalla 0,52 keV energialla fluoresoiva happi.", "language": "fi", "element": "description", "qualifier": "abstract", "schema": "dc"}, {"key": "dc.description.provenance", "value": "Submitted by Paivi Vuorio (paelvuor@jyu.fi) on 2022-10-27T05:16:54Z\nNo. of bitstreams: 0", "language": "en", "element": "description", "qualifier": "provenance", "schema": "dc"}, {"key": "dc.description.provenance", "value": "Made available in DSpace on 2022-10-27T05:16:54Z (GMT). No. of bitstreams: 0\n Previous issue date: 2022", "language": "en", "element": "description", "qualifier": "provenance", "schema": "dc"}, {"key": "dc.format.extent", "value": "51", "language": "", "element": "format", "qualifier": "extent", "schema": "dc"}, {"key": "dc.format.mimetype", "value": "application/pdf", "language": null, "element": "format", "qualifier": "mimetype", "schema": "dc"}, {"key": "dc.language.iso", "value": "fin", "language": null, "element": "language", "qualifier": "iso", "schema": "dc"}, {"key": "dc.rights", "value": "In Copyright", "language": "en", "element": "rights", "qualifier": null, "schema": "dc"}, {"key": "dc.subject.other", "value": "r\u00f6ntgenfluoresenssi", "language": "", "element": "subject", "qualifier": "other", "schema": "dc"}, {"key": "dc.subject.other", "value": "XRF", "language": "", "element": "subject", "qualifier": "other", "schema": "dc"}, {"key": "dc.subject.other", "value": "ALD", "language": "", "element": "subject", "qualifier": "other", "schema": "dc"}, {"key": "dc.subject.other", "value": "nanolaminaatti", "language": "", "element": "subject", "qualifier": "other", "schema": "dc"}, {"key": "dc.title", "value": "R\u00f6ntgenfluoresenssimittausten optimointi ohutkalvojen karakterisointiin", "language": "", "element": "title", "qualifier": null, "schema": "dc"}, {"key": "dc.type", "value": "master thesis", "language": null, "element": "type", "qualifier": null, "schema": "dc"}, {"key": "dc.identifier.urn", "value": "URN:NBN:fi:jyu-202210275022", "language": "", "element": "identifier", "qualifier": "urn", "schema": "dc"}, {"key": "dc.type.ontasot", "value": "Pro gradu -tutkielma", "language": "fi", "element": "type", "qualifier": "ontasot", "schema": "dc"}, {"key": "dc.type.ontasot", "value": "Master\u2019s thesis", "language": "en", "element": "type", "qualifier": "ontasot", "schema": "dc"}, {"key": "dc.contributor.faculty", "value": "Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta", "language": "fi", "element": "contributor", "qualifier": "faculty", "schema": "dc"}, {"key": "dc.contributor.faculty", "value": "Faculty of Sciences", "language": "en", "element": "contributor", "qualifier": "faculty", "schema": "dc"}, {"key": "dc.contributor.department", "value": "Fysiikan laitos", "language": "fi", "element": "contributor", "qualifier": "department", "schema": "dc"}, {"key": "dc.contributor.department", "value": "Department of Physics", "language": "en", "element": "contributor", "qualifier": "department", "schema": "dc"}, {"key": "dc.contributor.organization", "value": "Jyv\u00e4skyl\u00e4n yliopisto", "language": "fi", "element": "contributor", "qualifier": "organization", "schema": "dc"}, {"key": "dc.contributor.organization", "value": "University of Jyv\u00e4skyl\u00e4", "language": "en", "element": "contributor", "qualifier": "organization", "schema": "dc"}, {"key": "dc.subject.discipline", "value": "Fysiikka", "language": "fi", "element": "subject", "qualifier": "discipline", "schema": "dc"}, {"key": "dc.subject.discipline", "value": "Physics", "language": "en", "element": "subject", "qualifier": "discipline", "schema": "dc"}, {"key": "yvv.contractresearch.funding", "value": "0", "language": "", "element": "contractresearch", "qualifier": "funding", "schema": "yvv"}, {"key": "dc.type.coar", "value": "http://purl.org/coar/resource_type/c_bdcc", "language": null, "element": "type", "qualifier": "coar", "schema": "dc"}, {"key": "dc.rights.accesslevel", "value": "openAccess", "language": null, "element": "rights", "qualifier": "accesslevel", "schema": "dc"}, {"key": "dc.type.publication", "value": "masterThesis", "language": null, "element": "type", "qualifier": "publication", "schema": "dc"}, {"key": "dc.subject.oppiainekoodi", "value": "4021", "language": "", "element": "subject", "qualifier": "oppiainekoodi", "schema": "dc"}, {"key": "dc.subject.yso", "value": "ohutkalvot", "language": null, "element": "subject", "qualifier": "yso", "schema": "dc"}, {"key": "dc.subject.yso", "value": "atomikerroskasvatus", "language": null, "element": "subject", "qualifier": "yso", "schema": "dc"}, {"key": "dc.format.content", "value": "fulltext", "language": null, "element": "format", "qualifier": "content", "schema": "dc"}, {"key": "dc.rights.url", "value": "https://rightsstatements.org/page/InC/1.0/", "language": null, "element": "rights", "qualifier": "url", "schema": "dc"}, {"key": "dc.type.okm", "value": "G2", "language": null, "element": "type", "qualifier": "okm", "schema": "dc"}]
id jyx.123456789_83713
language fin
last_indexed 2025-02-18T10:56:12Z
main_date 2022-01-01T00:00:00Z
main_date_str 2022
online_boolean 1
online_urls_str_mv {"url":"https:\/\/jyx.jyu.fi\/bitstreams\/a9e73735-fa66-4875-8470-adc06d1b909d\/download","text":"URN:NBN:fi:jyu-202210275022.pdf","source":"jyx","mediaType":"application\/pdf"}
publishDate 2022
record_format qdc
source_str_mv jyx
spellingShingle Kääriäinen, Jussi Röntgenfluoresenssimittausten optimointi ohutkalvojen karakterisointiin röntgenfluoresenssi XRF ALD nanolaminaatti Fysiikka Physics 4021 ohutkalvot atomikerroskasvatus
title Röntgenfluoresenssimittausten optimointi ohutkalvojen karakterisointiin
title_full Röntgenfluoresenssimittausten optimointi ohutkalvojen karakterisointiin
title_fullStr Röntgenfluoresenssimittausten optimointi ohutkalvojen karakterisointiin Röntgenfluoresenssimittausten optimointi ohutkalvojen karakterisointiin
title_full_unstemmed Röntgenfluoresenssimittausten optimointi ohutkalvojen karakterisointiin Röntgenfluoresenssimittausten optimointi ohutkalvojen karakterisointiin
title_short Röntgenfluoresenssimittausten optimointi ohutkalvojen karakterisointiin
title_sort röntgenfluoresenssimittausten optimointi ohutkalvojen karakterisointiin
title_txtP Röntgenfluoresenssimittausten optimointi ohutkalvojen karakterisointiin
topic röntgenfluoresenssi XRF ALD nanolaminaatti Fysiikka Physics 4021 ohutkalvot atomikerroskasvatus
topic_facet 4021 ALD Fysiikka Physics XRF atomikerroskasvatus nanolaminaatti ohutkalvot röntgenfluoresenssi
url https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/83713 http://www.urn.fi/URN:NBN:fi:jyu-202210275022
work_keys_str_mv AT kääriäinenjussi röntgenfluoresenssimittaustenoptimointiohutkalvojenkarakterisointiin