Raman-mikroskopia ja SERS-ilmiö forensisessa materiaalianalytiikassa

Raman-mikroskopia ja SERS-ilmiö forensisessa materiaalianalytiikassa

Tässä Pro gradu -tutkielmassa oli tarkoitus selvittää pintavoimistetun Raman-spektroskopia -ilmiön (SERS) käyttömahdollisuuksia erilaisten forensiikassa tutkittavien materiaalien vertailu- ja materiaalintunnistustutkimuksissa. SERS-ilmiö perustuu pintaplasmoniresonanssi-ilmiöön (SPR) ja sen keskiöss...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Tikkanen, Toni
Other Authors: Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta, Faculty of Sciences, Kemian laitos, Department of Chemistry, Jyväskylän yliopisto, University of Jyväskylä
Format: Master's thesis
Language:fin
Published: 2019
Subjects:
Raman-mikroskopia
SERS
pintaplasmoniresonanssi
Soveltava kemia
Applied Chemistry
4036
väriaineet
spektroskopia
nanohiukkaset
sähkömagneettinen säteily
Online Access: https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/66862

Similar Items