| _version_ |
1809901532537159680
|
| annif_keywords_txtF_mv |
mikroskopia
analyysimenetelmät
laboratoriotutkimus
kemiallinen analyysi
menetelmät
|
| annif_uris_txtF_mv |
http://www.yso.fi/onto/yso/p16290
http://www.yso.fi/onto/yso/p6085
http://www.yso.fi/onto/yso/p6757
http://www.yso.fi/onto/yso/p15894
http://www.yso.fi/onto/yso/p1913
|
| author |
Tikkanen, Toni
|
| author2 |
Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta
Faculty of Sciences
Kemian laitos
Department of Chemistry
Jyväskylän yliopisto
University of Jyväskylä
Soveltava kemia
Applied Chemistry
4036
|
| author_facet |
Tikkanen, Toni
Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta
Faculty of Sciences
Kemian laitos
Department of Chemistry
Jyväskylän yliopisto
University of Jyväskylä
Soveltava kemia
Applied Chemistry
4036
Tikkanen, Toni
|
| author_sort |
Tikkanen, Toni
|
| building |
Jyväskylän yliopisto
JYX-julkaisuarkisto
|
| datasource_str_mv |
jyx
|
| department_txtF |
Kemian laitos
|
| faculty_txtF |
Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta
|
| first_indexed |
2019-12-17T21:15:13Z
|
| format |
Pro gradu
|
| format_ext_str_mv |
Opinnäyte
Pro gradu
|
| free_online_boolean |
1
|
| fullrecord |
<?xml version="1.0"?>
<qualifieddc schemaLocation="http://purl.org/dc/terms/ http://dublincore.org/schemas/xmls/qdc/2006/01/06/dcterms.xsd http://purl.org/dc/elements/1.1/ http://dublincore.org/schemas/xmls/qdc/2006/01/06/dc.xsd"><title>Raman-mikroskopia ja SERS-ilmiö forensisessa materiaalianalytiikassa</title><creator>Tikkanen, Toni</creator><contributor type="tiedekunta" lang="fi">Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta</contributor><contributor type="tiedekunta" lang="en">Faculty of Sciences</contributor><contributor type="laitos" lang="fi">Kemian laitos</contributor><contributor type="laitos" lang="en">Department of Chemistry</contributor><contributor type="yliopisto" lang="fi">Jyväskylän yliopisto</contributor><contributor type="yliopisto" lang="en">University of Jyväskylä</contributor><contributor type="oppiaine" lang="fi">Soveltava kemia</contributor><contributor type="oppiaine" lang="en">Applied Chemistry</contributor><contributor type="oppiainekoodi">4036</contributor><subject type="other">Raman-mikroskopia</subject><subject type="other">SERS</subject><subject type="other">pintaplasmoniresonanssi</subject><subject type="yso">väriaineet</subject><subject type="yso">spektroskopia</subject><subject type="yso">nanohiukkaset</subject><subject type="yso">sähkömagneettinen säteily</subject><available>2019-12-17T07:45:14Z</available><issued>2019</issued><type lang="fi">Pro gradu -tutkielma</type><type lang="en">Master’s thesis</type><identifier type="uri">https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/66862</identifier><identifier type="urn">URN:NBN:fi:jyu-201912175355</identifier><language type="iso">fi</language><rights type="copyright" lang="fi">Julkaisu on tekijänoikeussäännösten alainen. Teosta voi lukea ja tulostaa henkilökohtaista käyttöä varten. Käyttö kaupallisiin tarkoituksiin on kielletty.</rights><rights type="copyright" lang="en">This publication is copyrighted. You may download, display and print it for Your own personal use. Commercial use is prohibited.</rights><permaddress type="urn">http://www.urn.fi/URN:NBN:fi:jyu-201912175355</permaddress><file bundle="ORIGINAL" href="https://jyx.jyu.fi/bitstream/123456789/66862/1/URN%3aNBN%3afi%3ajyu-201912175355.pdf" name="URN:NBN:fi:jyu-201912175355.pdf" type="application/pdf" length="3550821" sequence="1"/><recordID>123456789_66862</recordID></qualifieddc>
|
| id |
jyx.123456789_66862
|
| language |
fin
|
| last_indexed |
2024-09-03T10:50:11Z
|
| main_date |
2019-01-01T00:00:00Z
|
| main_date_str |
2019
|
| online_boolean |
1
|
| online_urls_str_mv |
{"url":"https:\/\/jyx.jyu.fi\/bitstream\/123456789\/66862\/1\/URN%3aNBN%3afi%3ajyu-201912175355.pdf","text":"URN:NBN:fi:jyu-201912175355.pdf","source":"jyx","mediaType":"application\/pdf"}
|
| oppiainekoodi_txtF |
4036
|
| publication_first_indexed |
2019-12-17T21:15:13Z
|
| publishDate |
2019
|
| record_format |
qdc
|
| source_str_mv |
jyx
|
| spellingShingle |
Tikkanen, Toni
Raman-mikroskopia ja SERS-ilmiö forensisessa materiaalianalytiikassa
Raman-mikroskopia
SERS
pintaplasmoniresonanssi
väriaineet
spektroskopia
nanohiukkaset
sähkömagneettinen säteily
|
| subject_txtF |
Soveltava kemia
|
| thumbnail |
https://jyu.finna.fi/Cover/Show?source=Solr&id=jyx.123456789_66862&index=0&size=large
|
| title |
Raman-mikroskopia ja SERS-ilmiö forensisessa materiaalianalytiikassa
|
| title_full |
Raman-mikroskopia ja SERS-ilmiö forensisessa materiaalianalytiikassa
|
| title_fullStr |
Raman-mikroskopia ja SERS-ilmiö forensisessa materiaalianalytiikassa
Raman-mikroskopia ja SERS-ilmiö forensisessa materiaalianalytiikassa
|
| title_full_unstemmed |
Raman-mikroskopia ja SERS-ilmiö forensisessa materiaalianalytiikassa
Raman-mikroskopia ja SERS-ilmiö forensisessa materiaalianalytiikassa
|
| title_short |
Raman-mikroskopia ja SERS-ilmiö forensisessa materiaalianalytiikassa
|
| title_sort |
raman mikroskopia ja sers ilmiö forensisessa materiaalianalytiikassa
|
| title_txtP |
Raman-mikroskopia ja SERS-ilmiö forensisessa materiaalianalytiikassa
|
| topic |
Raman-mikroskopia
SERS
pintaplasmoniresonanssi
väriaineet
spektroskopia
nanohiukkaset
sähkömagneettinen säteily
|
| topic_facet |
Raman-mikroskopia
SERS
nanohiukkaset
pintaplasmoniresonanssi
spektroskopia
sähkömagneettinen säteily
väriaineet
|
| url |
https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/66862
http://www.urn.fi/URN:NBN:fi:jyu-201912175355
|
| work_keys_str_mv |
AT tikkanentoni ramanmikroskopiajasersilmiöforensisessamateriaalianalytiikassa
|