Tikkanen, T., tiedekunta, M., Sciences, F. o., laitos, K., Chemistry, D. o., yliopisto, J., & Jyväskylä, U. o. (2019). Raman-mikroskopia ja SERS-ilmiö forensisessa materiaalianalytiikassa.
Chicago-viite (17. p.)Tikkanen, Toni, Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta, Faculty of Sciences, Kemian laitos, Department of Chemistry, Jyväskylän yliopisto, ja University of Jyväskylä. Raman-mikroskopia Ja SERS-ilmiö Forensisessa Materiaalianalytiikassa. 2019.
MLA-viite (9. p.)Tikkanen, Toni, et al. Raman-mikroskopia Ja SERS-ilmiö Forensisessa Materiaalianalytiikassa. 2019.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.