Tikkanen, T., tiedekunta, M., Sciences, F. o., laitos, K., Chemistry, D. o., yliopisto, J., & Jyväskylä, U. o. (2019). Raman-mikroskopia ja SERS-ilmiö forensisessa materiaalianalytiikassa.
Chicago Style (17th ed.) CitationTikkanen, Toni, Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta, Faculty of Sciences, Kemian laitos, Department of Chemistry, Jyväskylän yliopisto, and University of Jyväskylä. Raman-mikroskopia Ja SERS-ilmiö Forensisessa Materiaalianalytiikassa. 2019.
MLA (9th ed.) CitationTikkanen, Toni, et al. Raman-mikroskopia Ja SERS-ilmiö Forensisessa Materiaalianalytiikassa. 2019.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.