Bias and temperature dependence analysis of the tunneling current of normal metal-insulator-normal metal tunnel junctions

Bibliographic Details
Main Author: Koppinen, Panu
Format: Master's thesis
Language:eng
Published: Jyväskylä, 2003.
Subjects:
Online Access:http://urn.fi/URN:NBN:fi:jyu-2003897782

MARC

LEADER 00000cam a22000004i 4500
001 897782
003 FI-J
005 20210226111100.0
006 m||||||||d||||||||
007 cu|||||||||a||
008 030514s2003 fi |||||sm |||||||eng||
035 |a 897782 
041 0 |a eng 
100 1 |a Koppinen, Panu. 
245 1 0 |a Bias and temperature dependence analysis of the tunneling current of normal metal-insulator-normal metal tunnel junctions /  |c Panu Koppinen. 
260 |a Jyväskylä,  |c 2003. 
300 |a 75 lehteä. 
336 |a teksti  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a tietokonekäyttöinen  |b c  |2 rdamedia 
338 |a verkkoaineisto  |b cr  |2 rdacarrier 
509 |a Pro gradu -työ :  |c Jyväskylän yliopisto, fysiikan laitos.  |9 402. 
538 |a Internet-yhteys; WWW-selain; Acrobat Reader. 
653 |a tunnel junction 
653 |a tunneling 
653 |a tunneling current 
653 |a electron tunneling 
653 |a temperature dependence 
653 |a bias voltage dependence 
856 4 0 |u http://urn.fi/URN:NBN:fi:jyu-2003897782  |u URN:NBN:fi:jyu-2003897782  |q PDF 
999 |c 897782  |d 897782 
952 |b KANAVUORI  |c 812  |h paperiversio  |o KV FYS Gradu Koppinen Panu  |9 1