Low-voltage imaging and chemical analysis with a field scanning electron microscope

Bibliographic Details
Main Author: Moisala, Anna
Format: Master's thesis
Language:eng
Published: Jyväskylä, 2000.
Online Access:https://jyu.finna.fi/Record/jykdok.830877

MARC

LEADER 00000cam a22000007i 4500
001 830877
003 FI-J
005 20210226090213.0
008 000427s2000 fi ||||||m |||||||eng||
035 |a 830877 
041 0 |a eng 
100 1 |a Moisala, Anna. 
245 1 0 |a Low-voltage imaging and chemical analysis with a field scanning electron microscope /  |c Anna Moisala. 
260 |a Jyväskylä,  |c 2000. 
300 |a 85 lehteä :  |b kuvitettu 
336 |a teksti  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a käytettävissä ilman laitetta  |b n  |2 rdamedia 
338 |a nide  |b nc  |2 rdacarrier 
509 |a Pro gradu -työ :  |c Jyväskylän yliopisto, kemian laitos, soveltava kemia.  |9 4036. 
999 |c 830877  |d 830877 
952 |b KANAVUORI  |c 812  |o KV KEM Gradu Moisala Anna  |9 1