Single-event effects of space and atmospheric radiation on memory components

Single-event effects of space and atmospheric radiation on memory components

Show other versions (1)
Bibliographic Details
Main Author: Bosser, Alexandre, kirjoittaja
Format: Doctoral dissertation
Language:eng
Published: Jyväskylä : 2017.
Series:Research report / Department of Physics, University of Jyväskylä, 2017, 10.
Subjects:
muistit
koetus
muistit (tietotekniikka)
flash-muistit
säteilyfysiikka
hiukkassäteily
kosminen säteily
fysikaaliset vaikutukset
käyttömuistit
strålningsfysik
partikelstrålning
kosmisk strålning
minnen (apparater)
arbetsminnen
flashminnen
säteilynkestävyys
radiation effects
memory
COTS
RAM
SRAM
FRAM
MRAM
flash
single-event effect
radiation testing
kontroll (fysik)
Online Access:Yhteenveto-osa
Show all versions (2)

Similar Items