Single-event effects of space and atmospheric radiation on memory components

Bibliografiset tiedot
Päätekijä:	Bosser, Alexandre, kirjoittaja
Aineistotyyppi:	Väitöskirja
Kieli:	eng
Julkaistu:	Jyväskylä : 2017.
Sarja:	Research report / Department of Physics, University of Jyväskylä, 2017, 10.
Aiheet:	säteilyfysiikka hiukkassäteily kosminen säteily muistit (tietotekniikka) keskusmuistit flash-muistit testaus säteilynkestävyys radiation effects memory COTS RAM SRAM FRAM MRAM flash single-event effect radiation testing väitöskirjat
Linkit:	JYX julkaisuarkisto / JYX Digital Archive JYX julkaisuarkisto / JYX Digital Archive

Single-event effects of space and atmospheric radiation on memory components Tekijä Bosser, Alexandre, kirjoittaja

Julkaistu 2017

Yhteenveto-osa
Yhteenveto-osa

Väitöskirja