Fabrication, electrical characterization and 1/f noise study of submicron-sized superconducting tunnel junctions

Fabrication, electrical characterization and 1/f noise study of submicron-sized superconducting tunnel junctions

Näytä muut versiot (1)
Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Julin, Juhani, kirjoittaja
Aineistotyyppi: Väitöskirja
Kieli:eng
Julkaistu: Jyväskylä : 2016.
Sarja:Research report / Department of Physics, University of Jyväskylä, 2016, 8.
Aiheet:
kylmäfysiikka
nanorakenteet
suprajohteet
alumiini
mangaani
niobium
sähkönjohtavuus
suprajohtavuus
lämpökäsittely
kohina
low temperature physics
nanofabrication
tunnel junctions
Josephson junctions
NIS/SIS tunneling
supercurrent
superconductor
cryogenics
noise
1/f noise
annealing
negative absolute resistance
niobium-based superconducting devices
Linkit:https://jyu.finna.fi/Record/jykdok.1571173
Kuvaus
Huomautukset:Artikkeliväitöskirjan yhteenveto-osa ja 4 eripainosta.

Samankaltaisia teoksia